關 鍵 詞: |
雙重專利;上位發明;下位發明;專利申請權 |
中文摘要: |
本文主要目的有二:一是藉由美國判例法的研究,瞭解美國有關雙重專利的運作實務,提供我國人申請美國專利時之參考;二是以美國判例法檢視我國專利審查基準,是否有需要進一步調整之處。
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目 次: |
壹、前言 貳、雙重專利之法規 一、專利法與專利審查基準 二、美國雙重專利之法規 參、美國雙重專利判例法 一、雙重專利判例法的形成 (一)兩種類型的雙重專利 (二)單向測試與雙向測試 二、雙重專利判斷原則之爭議 (一)請求上位發明的連續案 (二)同日申請上、下位發明的兩件專利 (三)顯而易見型雙重專利適用單向測試 三、URAA 之後的顯而易見型雙重專利 (一)禁止雙重專利的第二個理由 (二)後申請的下位概念仍可能是顯而易見型雙重專利 肆、問題與討論 一、美國禁止雙重專利的理由與判斷原則 二、我國同人申請兩件類似發明的檢討 (一)同人同日申請兩件專利 (二)同人先申請下位發明、後申請上位發明 (三)同人先申請上位發明、後申請下位發明或顯而易見變化 三、我國不同人持有兩件類似發明的檢討 (一)同人申請後移轉專利申請權給不同人 (二)不同人申請兩件類似專利 四、欠缺顯而易見型雙重專利的問題 伍、結論
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